LXI帮助提高元器件的可靠性0测试电缆

LXI帮助提高元器件的可靠性

LXI帮助提高元器件的可靠性 2011年12月09日 来源： 摘要:　　本文详细介绍了LXI C类产品在电磁继电器性能测试和元器件筛选中的应用。本系统的设计也可扩展至其它低频元器件测试和筛选中。1 引言　　在电子产品的设计及生产过程中，元器件的筛选、装配后的可靠性试验都是直接影响产品可靠性的直接因素。　　对于电磁继电器而言，亦是如此。电磁继电器是机电结合的电子元件，其断态的高阻绝缘和通态的低导通电阻使得其它电子元器件无法与其相比，因而被广泛用于各种电子装备中。　　电磁继电器可分为普通电磁继电器、磁保持继电器、时间继电器等。由于其功能不同，在电子装备中经常会配合使用完成一定的时序控制和信号控制等。因而提高电磁继电器的可靠性对电子装备而言，显得尤为重要。　　对于电磁继电器而言，它有许多功能指标，如转换功能、保持功能、释放功能，参数指标包括绕阻电阻、吸合电压、保持电压、释放电压、吸合断开时间、吸合时间、开点电阻、闭点电阻等。这些指标均在继电器出厂前得到检验。电磁继电器的一般测试参数如表1 所示:测试参数参数含义转换功能继电器在规定绕组电压下完成吸合转换的功能。保持功能继电器在规定绕组电压下保持不释放的功能。释放功能继电器在规定绕组电压下完成释放的功能。绕组电阻继电器绕组的直流电阻。吸合电压继电器动合点全部闭合的最低电压(扫描测试，步距可程控)。保持电压继电器吸合后全部触点保持状态不变的最低电压。释放电压继电器静合点全部闭合的最高电压(扫描测试，步距可程控)。开点电阻继电器动合点在规定绕组电压下的接触电阻。闭点电阻继电器静合点在不施加绕组电压时的接触电阻。吸合断开继电器从施加规定绕组电压起，至静合点断开的时间。吸合时间继电器从施加规定绕组电压起，至动合点闭合的时间。吸合回跳继电器吸合过程中，从动合点首次闭合到末次回跳的累计时间。吸合转换继电器在吸合过程中，动合点吸合时间与静合点断开时间之差。释放断开继电器施加规定绕组电压后从去激励起，至动合点断开的时间。释放时间继电器施加规定绕组电压后从去激励起，至静合点闭合的时间。释放回跳继电器释放过程中静合点首次闭合到末次回跳的累计时间。释放转换继电器在释放过程中，静合点吸合时间与动合点断开时间之差表1 继电器主要测试功能及参数定义　　而对于使用方而言，为了保证电子装备的可靠性，还必须对所购器件进行规定的筛选试验。即在一定条件下对元器件进行功能及参数测试。　　在可靠性要求高的场合，还必须对装配后的电子装备进行电路测试，确保功能及参数的准确性。譬如说，电子装备中继电器的转换功能、保持功能、延迟时间、继电器抖动等。这些功能和试验通常是由几台测试设备共同完成的。　　新的LXI 系统的组建使得测试系统极大简化，而且从成本和性能上都优于原来的系统。2 LXI 测试系统设计　　对于元器件的测试，不同于部件级和系统级测试，它的测试指标和测试功能一般都要求的高和复杂，测试精度也要求高; 且筛选时的通道要求也多。然而，由于元器件的价值比一般部件级衙系统级产品低，因而对测试系统的费用的投入相对来说要低得多。　　而采用LXI C 类产品组建的测试系统，则很好地解决了这一矛盾。LXI 测试系统的主要配置见如表2:计算机服务器LXIAgilent 34980AC 类测量/开关组合Agilent 34922A40 通道继电器多路转换器Agilent 34937A32

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